Numer produktu producenta:
SN74ABTH182646APM
Product Overview
Producent:
Texas Instruments
Numer części:
SN74ABTH182646APM-DG
Opis:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Szczegółowy opis:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
Magazyn:
1696399
Poproś o wycenę
Ilość
Minimum 1
Minimum 1
(*) jest obowiązkowe
Skontaktujemy się z Tobą w ciągu 24 godzin
Skontaktujemy się z Tobą w ciągu 24 godzin
ZATWIERDŹ
SN74ABTH182646APM Specyfikacje techniczne
Kategoria
Logika, Logika specjalistyczna
Producent
Texas Instruments
Opakowanie
Tray
Seria
74ABTH
Status produktu
Active
Typ logiki
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Napięcie zasilania
4.5V ~ 5.5V
Liczba bitów
18
Temperatura
-40°C ~ 85°C
Rodzaj montażu
Surface Mount
Pakiet / Walizka
64-LQFP
Pakiet urządzeń dostawcy
64-LQFP (10x10)
Podstawowy numer produktu
74ABTH182646
Karta katalogowa i dokumenty
Karty katalogowe
Dodatkowe informacje
Inne nazwy
-296-4133-DG
-74ABTH182646APMG4-NDR
74ABTH182646APMG4-DG
74ABTH182646APMG4
2156-SN74ABTH182646APM
-296-4133
TEXTISSN74ABTH182646APM
296-4133-NDR
-SN74ABTH182646APM-NDR
-74ABTH182646APMG4
296-4133
Pakiet Standard
160
Klasyfikacja środowiskowa i eksportowa
RoHS Status
ROHS3 Compliant
Poziom wrażliwości na wilgoć (MSL)
3 (168 Hours)
REACH Status
REACH Unaffected
Sieć ECCN (Sieć Współpracy T
EAR99
HTSUS (Międzynarodowa Organizacja Współpracy T
8542.39.0001
Certyfikacja DIGI
Produkty powiązane
SN74ABT8543DL
IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SSOP
SN74ABTH18652APM
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
SY100EL16VCKI-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
