Numer produktu producenta:
SN74ABTH18652APM
Product Overview
Producent:
Texas Instruments
Numer części:
SN74ABTH18652APM-DG
Opis:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Szczegółowy opis:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
Magazyn:
1696816
Poproś o wycenę
Ilość
Minimum 1
Minimum 1
(*) jest obowiązkowe
Skontaktujemy się z Tobą w ciągu 24 godzin
Skontaktujemy się z Tobą w ciągu 24 godzin
ZATWIERDŹ
SN74ABTH18652APM Specyfikacje techniczne
Kategoria
Logika, Logika specjalistyczna
Producent
Texas Instruments
Opakowanie
Tray
Seria
74ABTH
Status produktu
Active
Typ logiki
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Napięcie zasilania
4.5V ~ 5.5V
Liczba bitów
18
Temperatura
-40°C ~ 85°C
Rodzaj montażu
Surface Mount
Pakiet / Walizka
64-LQFP
Pakiet urządzeń dostawcy
64-LQFP (10x10)
Podstawowy numer produktu
74ABTH18652
Karta katalogowa i dokumenty
Karty katalogowe
Dodatkowe informacje
Inne nazwy
-296-4137
SN74ABTH18652APMG4-DG
-SN74ABTH18652APMG4
TEXTISSN74ABTH18652APM
-SN74ABTH18652APM-NDR
-296-4137-NDR
296-4137
-296-4137-DG
296-4137-NDR
SN74ABTH18652APMG4
2156-SN74ABTH18652APM
-SN74ABTH18652APMG4-NDR
Pakiet Standard
160
Klasyfikacja środowiskowa i eksportowa
RoHS Status
ROHS3 Compliant
Poziom wrażliwości na wilgoć (MSL)
3 (168 Hours)
REACH Status
REACH Unaffected
Sieć ECCN (Sieć Współpracy T
EAR99
HTSUS (Międzynarodowa Organizacja Współpracy T
8542.39.0001
Certyfikacja DIGI
Produkty powiązane
SY100EL16VCKI-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
SN74ABTE16245DL
IC 16BIT I-WS BUS TXRX 48-SSOP
SN74ABT8652DW
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
