Numer produktu producenta:
SN74BCT8373ADW
Product Overview
Producent:
Texas Instruments
Numer części:
SN74BCT8373ADW-DG
Opis:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
Szczegółowy opis:
Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
Magazyn:
1649105
Poproś o wycenę
Ilość
Minimum 1
Minimum 1
(*) jest obowiązkowe
Skontaktujemy się z Tobą w ciągu 24 godzin
Skontaktujemy się z Tobą w ciągu 24 godzin
ZATWIERDŹ
SN74BCT8373ADW Specyfikacje techniczne
Kategoria
Logika, Logika specjalistyczna
Producent
Texas Instruments
Opakowanie
Tube
Seria
74BCT
Status produktu
Active
Typ logiki
Scan Test Device with D-Type Latches
Napięcie zasilania
4.5V ~ 5.5V
Liczba bitów
8
Temperatura
0°C ~ 70°C
Rodzaj montażu
Surface Mount
Pakiet / Walizka
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pakiet urządzeń dostawcy
24-SOIC
Podstawowy numer produktu
74BCT8373
Karta katalogowa i dokumenty
Karty katalogowe
Dodatkowe informacje
Inne nazwy
SN74BCT8373ADWG4
2156-SN74BCT8373ADW
-SN74BCT8373ADW-NDR
SN74BCT8373ADWE4-DG
SN74BCT8373ADWE4
TEXTISSN74BCT8373ADW
SN74BCT8373ADWG4-DG
Pakiet Standard
25
Klasyfikacja środowiskowa i eksportowa
RoHS Status
ROHS3 Compliant
Poziom wrażliwości na wilgoć (MSL)
1 (Unlimited)
REACH Status
REACH Unaffected
Sieć ECCN (Sieć Współpracy T
EAR99
HTSUS (Międzynarodowa Organizacja Współpracy T
8542.39.0001
Certyfikacja DIGI
Produkty powiązane
SN74LS31N
IC HEX DELAY ELEMENT 16-DIP
SN74ABT18245ADLR
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
SY100EL16VSZC
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC
