Numer produktu producenta:
SN74BCT8245ADW
Product Overview
Producent:
Texas Instruments
Numer części:
SN74BCT8245ADW-DG
Opis:
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
Szczegółowy opis:
Scan Test Device with Bus Transceivers IC 24-SOIC
Magazyn:
1674913
Poproś o wycenę
Ilość
Minimum 1
Minimum 1
(*) jest obowiązkowe
Skontaktujemy się z Tobą w ciągu 24 godzin
Skontaktujemy się z Tobą w ciągu 24 godzin
ZATWIERDŹ
SN74BCT8245ADW Specyfikacje techniczne
Kategoria
Logika, Logika specjalistyczna
Producent
Texas Instruments
Opakowanie
Tube
Seria
74BCT
Status produktu
Last Time Buy
Typ logiki
Scan Test Device with Bus Transceivers
Napięcie zasilania
4.5V ~ 5.5V
Liczba bitów
8
Temperatura
0°C ~ 70°C
Rodzaj montażu
Surface Mount
Pakiet / Walizka
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pakiet urządzeń dostawcy
24-SOIC
Podstawowy numer produktu
74BCT8245
Karta katalogowa i dokumenty
Karty katalogowe
Dodatkowe informacje
Inne nazwy
SN74BCT8245ADWE4-DG
2156-SN74BCT8245ADW
-SN74BCT8245ADW-NDR
SN74BCT8245ADWE4
SN74BCT8245ADWG4-DG
TEXTISSN74BCT8245ADW
SN74BCT8245ADWG4
Pakiet Standard
25
Klasyfikacja środowiskowa i eksportowa
RoHS Status
ROHS3 Compliant
Poziom wrażliwości na wilgoć (MSL)
1 (Unlimited)
REACH Status
REACH Unaffected
Sieć ECCN (Sieć Współpracy T
EAR99
HTSUS (Międzynarodowa Organizacja Współpracy T
8542.39.0001
Alternatywne modele
NUMER CZĘŚCI
SN74BCT8245ADWR
PRODUCENT
Texas Instruments
ILOŚĆ DOSTĘPNA
0
NUMER CZĘŚCI
SN74BCT8245ADWR-DG
CENA JEDNOSTKOWA
5.90
Rodzaj zastąpienia
MFR Recommended
Certyfikacja DIGI
Produkty powiązane
SN74GTLP22034DGVR
IC REG TXRX LVTTL-GTLP 48-TVSOP
SN74ABT8543DWR
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
SN7497N
IC SYNC 6BIT BIN RATE MULT 16DIP
