Numer produktu producenta:
SN74ABT8245DWR
Product Overview
Producent:
Texas Instruments
Numer części:
SN74ABT8245DWR-DG
Opis:
IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
Szczegółowy opis:
Scan Test Device with Bus Transceivers IC 24-SOIC
Magazyn:
1726379
Poproś o wycenę
Ilość
Minimum 1
Minimum 1
(*) jest obowiązkowe
Skontaktujemy się z Tobą w ciągu 24 godzin
Skontaktujemy się z Tobą w ciągu 24 godzin
ZATWIERDŹ
SN74ABT8245DWR Specyfikacje techniczne
Kategoria
Logika, Logika specjalistyczna
Producent
Texas Instruments
Opakowanie
Tape & Reel (TR)
Seria
74ABT
Status produktu
Active
Typ logiki
Scan Test Device with Bus Transceivers
Napięcie zasilania
4.5V ~ 5.5V
Liczba bitów
8
Temperatura
-40°C ~ 85°C
Rodzaj montażu
Surface Mount
Pakiet / Walizka
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pakiet urządzeń dostawcy
24-SOIC
Podstawowy numer produktu
74ABT8245
Karta katalogowa i dokumenty
Karty katalogowe
Dodatkowe informacje
Inne nazwy
-SN74ABT8245DWRG4-NDR
-SN74ABT8245DWR-NDR
2156-SN74ABT8245DWR-296
SN74ABT8245DWRE4-DG
SN74ABT8245DWRG4-DG
-296-14679-1-DG
296-14679-6
-296-14679-1
296-14679-1
-SN74ABT8245DWRE4-NDR
SN74ABT8245DWRG4
296-14679-2
296-14679-2-NDR
296-14679-6-NDR
SN74ABT8245DWRE4
296-14679-1-NDR
-SN74ABT8245DWRE4
-SN74ABT8245DWRG4
Pakiet Standard
2,000
Klasyfikacja środowiskowa i eksportowa
RoHS Status
ROHS3 Compliant
Poziom wrażliwości na wilgoć (MSL)
1 (Unlimited)
REACH Status
REACH Unaffected
Sieć ECCN (Sieć Współpracy T
EAR99
HTSUS (Międzynarodowa Organizacja Współpracy T
8542.39.0001
Certyfikacja DIGI
Produkty powiązane
SN74ABT8652DLR
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
SN74ABT8996PW
IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24TSSOP
SY10EL16VEZI-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC
